繞線電阻測量
產品介紹
它有什麼用途？
使用高阻測量來測量繞阻對地的絕緣電阻(IR)。高阻的結果顯示繞阻髒汙、汙染或潮濕程度。如高阻低於一定水平，則馬達應安排維修。高阻數值越小，繞阻髒污程度越嚴重。
PI(極化指數)和DA(介電吸收)是在不同時間進行的高阻量測比值。PI是10分鐘和1分鐘之間的高阻比值。DAR是1分鐘和30秒之間的高阻比值。PI最常用於具線圈的機器中，通常包括具有多個記錄高阻值的高阻時間序列圖。該圖可以提供有關絕緣系統狀況的附加訊息，並指出絕緣是脆性還是分層。DAR和PI結果可能會在維護和可靠性程序中隨時間追蹤。
重要提示：高阻測試結果告訴測試人員，繞阻是否可以使用耐壓(Hipot)和突波(Surge)測試進行過壓測試。
絕緣電阻的工作原理
(有關詳細訊息，請參閱測試技術的絕緣電阻測試)：
高阻：電壓電位施加到繞阻，量測到對地電壓和電流，使用歐姆定律計算出高阻值。
對於使用繞阻的高阻測量，大部分洩漏電流通常是在繞阻外側的“髒污”中運行的表面電流。傳導電流流過地面時，接地絕緣可能會很弱。絕緣體可能被燒毀或以其他方式損壞，導致低的高阻值。絕緣吸收電流也可以慢慢衰減。然而，在許多情況下，低高阻讀數是“髒污”繞阻的結果。因此，絕緣電阻或高阻測量有時被稱為“髒污測試”。
PI，極化指數：該測試只要用於繞線馬達和發電機。在10分鐘內記錄高阻數據，並且所得到的曲線圖和PI比值可以如上所述提供關於繞阻絕緣的附加訊息。記錄數據點的數量可以在iTIG II馬達測試儀中編程。
DA或DAR測試：介電吸收率是1分鐘時的高阻值除以30秒的高阻值。該測試也稱為IEEE43標準中的替代PI測試。通常當測量的漏電留在1分鐘內穩定時使用。如果發生這種情況，PI測試是無用的，比值為1，如果需要或有用的比率測試，則應使用DAR。
使用高阻測量來測量繞阻對地的絕緣電阻(IR)。高阻的結果顯示繞阻髒汙、汙染或潮濕程度。如高阻低於一定水平，則馬達應安排維修。高阻數值越小，繞阻髒污程度越嚴重。
PI(極化指數)和DA(介電吸收)是在不同時間進行的高阻量測比值。PI是10分鐘和1分鐘之間的高阻比值。DAR是1分鐘和30秒之間的高阻比值。PI最常用於具線圈的機器中，通常包括具有多個記錄高阻值的高阻時間序列圖。該圖可以提供有關絕緣系統狀況的附加訊息，並指出絕緣是脆性還是分層。DAR和PI結果可能會在維護和可靠性程序中隨時間追蹤。
重要提示：高阻測試結果告訴測試人員，繞阻是否可以使用耐壓(Hipot)和突波(Surge)測試進行過壓測試。
絕緣電阻的工作原理
(有關詳細訊息，請參閱測試技術的絕緣電阻測試)：
高阻：電壓電位施加到繞阻，量測到對地電壓和電流，使用歐姆定律計算出高阻值。
對於使用繞阻的高阻測量，大部分洩漏電流通常是在繞阻外側的“髒污”中運行的表面電流。傳導電流流過地面時，接地絕緣可能會很弱。絕緣體可能被燒毀或以其他方式損壞，導致低的高阻值。絕緣吸收電流也可以慢慢衰減。然而，在許多情況下，低高阻讀數是“髒污”繞阻的結果。因此，絕緣電阻或高阻測量有時被稱為“髒污測試”。
PI，極化指數：該測試只要用於繞線馬達和發電機。在10分鐘內記錄高阻數據，並且所得到的曲線圖和PI比值可以如上所述提供關於繞阻絕緣的附加訊息。記錄數據點的數量可以在iTIG II馬達測試儀中編程。
DA或DAR測試：介電吸收率是1分鐘時的高阻值除以30秒的高阻值。該測試也稱為IEEE43標準中的替代PI測試。通常當測量的漏電留在1分鐘內穩定時使用。如果發生這種情況，PI測試是無用的，比值為1，如果需要或有用的比率測試，則應使用DAR。