產品名稱 : FLUKE雷射測距儀414D、419D、424D
產品介紹
414D 419D 424D
測量距離
典型測量公差[1] ± 2.0 mm [3] ± 1.0 mm [3]
最大測量公差[2] ± 3.0 mm [3] ± 2.0 mm [3]
在 Leica 目標板 GZM26 的範圍 50 m (165 ft) 80 m (260 ft) 100 m (330 ft)
典型距離[1] 40 m (130 ft) 80 m (260 ft) 80 m (260 ft)
不利條件下的範圍[4] 35 m (115 ft) 60 m (195 ft) 60 m (195 ft)
顯示的最小單位 1 mm (1/16 in) 6 /30 / 60 mm
(10 / 50 / 100 m)
∅ 下列距離的雷射點 6 /30 / 60 mm
(10 / 50 / 100 m)
6 /30 / 60 mm
(10 / 50 / 100 m)
傾斜測量
雷射光束的測量公差[5] ± 0.2°
外殼的測量公差[5] ± 0.2°
範圍 360°
一般
雷射等級 2
雷射類型 635 nm,<1 mW
保護等級 IP40 IP54
自動關閉雷射 90 秒後
自動關閉電源 180 秒後
電池壽命 (2 x AAA) 1.5 V NEDA 24A/IEC LR03 多達 3,000筆測量 多達 5,000筆測量
尺寸 (高 x 寬 x 長) 116mm 長
53mm 寬
33mm 深
127mm 長
56mm 寬
33mm 深
127mm 長
56mm 寬
33mm 深
重量 (含電池) 113 g 153 g 158 g
溫度範圍:儲存操作 -25 °C 至 +70°C
(-13 °F 至 +158 °F)

0 °C 至 +40 °C
(32 °F 至 +104 °F)
-25 °C 至 +70°C
(-13 °F 至 +158 °F)

-10 °C 至 +50 °C
(14 °F 至 +122 °F)
校正週期 不適用 不適用 傾斜與羅盤
最大高度 3000 m 3000 m 3000 m
最大相對濕度 20 °F 至 120°F(-7 °C 至 50 °C) 時為 85% 20 °F 至 120°F(-7 °C 至 50 °C) 時為 85% 20 °F 至 120°F(-7 °C 至 50 °C) 時為 85%
安全性 IEC 標準編號61010-1:2001
EN60825-1:2007 (Class II)
EMC EN 55022:2010
EN 61000-4-3:2010
EN 61000-4-8:2010
[1] 適用於 100 % 目標反射性 (漆為白色的牆面)、低背景照明、25 °C。
[2] 適用於 10 至 500 % 目標反射性、高背景照明、-10 °C 至 +50 °C。
[3] 公差適用於從 0.05 m 至 10 m,信賴水準為 95 %。在 10 m 至 30 m 的距離之間,最大公差可能劣化為 0.1 mm/m;30 m 以上的距離則可能劣化為 0.15 mm/m。
[4] 適用於 100 % 目標反射性、背景照明介於 10,000 lux 和 30,000 lux 之間。
[5] 在使用者校準後。每度的額外角度相關偏差為 ±0.01°,每一象限最高為 ±45°。適用於室溫。若為整個操作溫度範圍,最大偏差則增加 ±0.1°。