突波測試
Product Introduction
它有什麼用途？
突波試驗用於查找線圈、繞阻、馬達、發電機、交流發電機和變壓器中的短路與絕緣弱點。這些故障通常會匝間、線間或相間。發現的其他問題包括直流馬達錯誤的內部連接，錯誤的匝數等等。
匝間絕緣弱化是大多數繞阻故障的開始。因為它是唯一可以在高電壓下發現弱絕緣的測試，因此突波測試對於馬達的可靠性和維護程序很重要，用於診斷問題和進行品質控制。它是與局部放電測量結合使用的特別強大的工具。
無需轉動轉子可對單個線圈、定子、繞線轉子、完全組裝的馬達和發電機進行突波測試。
突波測試如何運作？
一組快速上升脈衝通過線圈或馬達(被測設備)。突波測試脈衝的電壓取決於測試操作員設定的電壓或所使用的標準。測試電壓可以從被測設備的峰值工作電壓範圍到被測設備的工作電壓的3.5倍。2E+1000V其中E是被測設備運行電壓的均方根植(RMS)是最常見的。
突波脈衝在測試儀和被測設備的電路中產生衰減波(見圖)。將此波形與來自另一個線圈的波形或來自其它馬達相的波形。全部顯示在螢幕上。
如果線圈或繞阻相同，波形將幾乎相同。如果有故障或絕緣弱化，波將有不同的頻率，並與其分離。iTIG II測試儀將計算波差(%WD)，也稱為%EAR或誤差面積比。
脈衝對脈衝的突波測試
脈衝對脈衝的突波測試應用於在突波波形中有正常差異的應用，但是當Pass/Fail的容忍度是未知的，如某些組裝馬達和許多同心繞線定子。當沒有其他線圈/相位進行比較時也會使用它。
有關脈衝對脈衝的突波測試和突波Pass/Fail的更多訊息建議，請參閱“測試技術-突波測試”。
突波測試是否具有破壞性？
突波比較測試通常在高於被測設備的峰值工作電壓的電壓下進行，因此被稱為過壓測試。他們沒有破畫性，其主要原因是測試電壓遠低於絕緣體的設計電壓，並且電弧中涉及的能量較低。一個很好的比喻是由於靜電從手指到門把的電弧，所涉電壓可以在12kV至20kV範圍內，但能量低，因此不致死。
來自突波試驗的繞阻中的電弧具有由測試儀中的放電電容施加的低能量和電壓，並且只要在突波試驗中使用的脈衝數量受到限制就不會損壞絕緣體，並且測試是在建議過電壓測試的條件下進行。
Electrom iTIG II系列馬達測試儀配有Surge GuardTM和Quick SurgeTM技術，可在突波測試期間消除電弧破壞。點擊此處了解有關突波測試和過電壓測試適當條件的更多詳細訊息。
突波試驗用於查找線圈、繞阻、馬達、發電機、交流發電機和變壓器中的短路與絕緣弱點。這些故障通常會匝間、線間或相間。發現的其他問題包括直流馬達錯誤的內部連接，錯誤的匝數等等。
匝間絕緣弱化是大多數繞阻故障的開始。因為它是唯一可以在高電壓下發現弱絕緣的測試，因此突波測試對於馬達的可靠性和維護程序很重要，用於診斷問題和進行品質控制。它是與局部放電測量結合使用的特別強大的工具。
無需轉動轉子可對單個線圈、定子、繞線轉子、完全組裝的馬達和發電機進行突波測試。
突波測試如何運作？
一組快速上升脈衝通過線圈或馬達(被測設備)。突波測試脈衝的電壓取決於測試操作員設定的電壓或所使用的標準。測試電壓可以從被測設備的峰值工作電壓範圍到被測設備的工作電壓的3.5倍。2E+1000V其中E是被測設備運行電壓的均方根植(RMS)是最常見的。
突波脈衝在測試儀和被測設備的電路中產生衰減波(見圖)。將此波形與來自另一個線圈的波形或來自其它馬達相的波形。全部顯示在螢幕上。
如果線圈或繞阻相同，波形將幾乎相同。如果有故障或絕緣弱化，波將有不同的頻率，並與其分離。iTIG II測試儀將計算波差(%WD)，也稱為%EAR或誤差面積比。
脈衝對脈衝的突波測試
脈衝對脈衝的突波測試應用於在突波波形中有正常差異的應用，但是當Pass/Fail的容忍度是未知的，如某些組裝馬達和許多同心繞線定子。當沒有其他線圈/相位進行比較時也會使用它。
有關脈衝對脈衝的突波測試和突波Pass/Fail的更多訊息建議，請參閱“測試技術-突波測試”。
突波測試是否具有破壞性？
突波比較測試通常在高於被測設備的峰值工作電壓的電壓下進行，因此被稱為過壓測試。他們沒有破畫性，其主要原因是測試電壓遠低於絕緣體的設計電壓，並且電弧中涉及的能量較低。一個很好的比喻是由於靜電從手指到門把的電弧，所涉電壓可以在12kV至20kV範圍內，但能量低，因此不致死。
來自突波試驗的繞阻中的電弧具有由測試儀中的放電電容施加的低能量和電壓，並且只要在突波試驗中使用的脈衝數量受到限制就不會損壞絕緣體，並且測試是在建議過電壓測試的條件下進行。
Electrom iTIG II系列馬達測試儀配有Surge GuardTM和Quick SurgeTM技術，可在突波測試期間消除電弧破壞。點擊此處了解有關突波測試和過電壓測試適當條件的更多詳細訊息。